Файны трэбаланыя дзеркальны квартц пустым вывадаў

Асаблів

Бена Optics праўдаць квартц кварц

Дзеляк пустыя. Гэта матеріал ёсць нізкі коэфіцыент пашырэння, і ёсць адзін з выкарыстанніх ультрафіолетных матеріаліў. Яе выдатны выканальня

TY_CONTACT_ULIRVISIONS

АўтарыАдкрыцц

Фізічныя уласцівасці Fused кварца ўключыць наступныя аспекты:

Празрыстасць і дыяпазон: Аптыічны шклы паказвае добры празрыстасць у бадныя і близькі інфрачервоныя спектральныя дыяпазон, Зрабіць яго прыдатна для выконування апетичных кампанентаў. Яе дыяпазону праграмы з'яўляецца 200-2500 nm, з моцнім банды абсорпцыю ў дыяпазону 2600-2800 nm.

Памылкая што значыць, што яна можа зменыць хроматічны абаразацыяў ў апетичных сістэмах, папэўніць ясласт і дакладнасць.

Хіміяльная стабільноста: квартц маюць дыялогны хімічнай стабільності, дазволіць яму адправіць кантакт з розныя хімікалым, Зрабіць яго прыдатна для розымных асяродзіў.

Термальная стабільноста: квартц маюць добры гермальныя стабільності у неабходным дыяпазону, што робіць гэта прыдатны для вышыных імпартаванняў.

Іншыя памылка: і ёсць страгі і грануўная структура.

Аналіз змесцівы

Ала	Фа	Кас	Мг	Ті	Мн
18.7	0.17	1.16	0.09	1.12	<0.02
Ні	Кэа	ЛіName	Нан	KName	КО
<0.04	<0.04	1.25	0. 4	0.3	<0.05
Загаловак			<23.11

Фісты

Коефіциент гармнае пашырэнне	5. 5x10^-7См/см.°C (20°C-320°C)
Термічнае паведамлення	1.4 W/m.°C
Пазначыць палі	670 J/kg.°C
Мласкаваць	1683°C
Кроп
Закрыць	1120 ° C
Гэты	2.21×103 kg/m³
Цязнасць	580 КХН-100
Цяжнасць	4.9 × 107Pa( N/㎡)
Сціснічная	> 1.1×109Pa

Аптыстыка

NF '- nC'	0.006797
Коэфіцыент стэс	35.0 nm/см
V_П	67.6
V_Т	67.8

ВызначыцьАдкрыць

Падрабязнасць	Діаметр 100 мм - 2000 мм
Падрабязнасць	5 mm~ 300 mm.
Радыя	Па запыт кліента
Пасярэдзіне	Па запыт кліента
Памылка /	Памеры	Вернір
Тэляярэнне	Радыус:	Машын координатаў (CMM)
	Звычайнасць	Індыкатар
	Кровернасці	Індыкатар

ПраграмыАдкрыцц

Калі лінзі для астрономічных тэлескопаў, Выкарыстоўваць сітіка, запевняе, што лінзія захоўваць вылучаныя апетичнае выканання на розныя тэмпарт, такі, як ад холодны назіраныя высокі вышыняя ў тежа назірамі пустеля. Гэтая стабільноста перапынае абстраснення з томным вышынні і кроку, такім чынам дакладнасць назіранняў. Ключам, сітіка шырно выкарыстаецца у іншыя апетичныя прылады, належныя лінзімі мікроскоп.